The XFlash® 5010 Detektor
The XFlash® 5010 Detektor

XFlash® 5010 Detektor

Das Herzstück dieses innovativen Systems ist ein Silizium-Chip, der nach dem Driftkammer-Prinzip arbeitet.

Durch das spezielle Design und einen im Detektor integrierten Ladungsverstärker kann der XFlash® außerordentlich hohe Impulsraten verarbeiten und zeigt dabei eine sehr gute Energieauflösung, wie sie von keinem anderen Silizium-basierten energiedispersiven Detektor erreicht wird. Ergebnisse, für die Sie früher Stunden gebraucht haben, sind jetzt binnen Minuten auf Ihrem Tisch.

Der XFlash® 5010 bietet Ihnen folgende Vorteile

  • ausgezeichnete Energieauflösung (Version mit 123 eV bei MnKα und 100 000 cps verfügbar) 
  • extrem hohe Impulsbelastbarkeit,
  • exzellente Leichtelement-Performance (Version mit Be-Detektion verfügbar),
  • keine aufwändigen, schwingungserzeugenden Kühlaggregate,
  • niedrige Betriebskosten,
  • wartungsfreier Betrieb,
  • kleine Einbaumaße,
  • geringes Gewicht,
  • günstiger Preis.

Anwendungsgebiete für den XFlash® 5010 sind

  • EDX-Systeme für REMs
  • Schnelle Mappingsysteme für REMs
  • Hochauflösungs-RFA-Spektrometer

Weitere Informationen

Funktionsprinzip - Silizium-Driftkammer Basis (SDD)

Technologie - Spitzenwerte in der Energieauflösung

XFlash®®Detektor 5010 - Exzellente Energieauflösung im Leichtelementbereich (PDF Datenblatt)