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- Bruker Nano Attains Atomic Resolution with N8 TITANOS™ Large Sample Atomic Force Microscope (AFM)
- Application Report XRD 11 D2 PHASER Desktop XRD: Quantitative phase analysis of Gypsum/Anhydrite samples
- Application Report XRD 10 D2 PHASER Quantitative phase analysis of OPC Clinkers
Upcoming Events
- nano tech
Feb 17-19, Tokyo, Japan - AXS CEM 2010 (PDF)
Feb 22-23, Karlsruhe, Germany - Analytica
March 23-26, Munich, Germany - BCA
April 12-15, Warwick, Great Britain
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Komponenten für die Röntgenanalyse
Ein typisches Röntgensystem besteht aus einer Kombination von Hochleistungskomponenten wie Röntgenquellen, Optiken, Detektoren, Probenhandhabungsgeräten etc., um die analytischen Anforderungen zu erfüllen. Konsequentes modulares Design ist der Schlüssel zur Konfiguration bester Röntgenanalysegeräte.
Alle Komponenten sind Teil der Schlüsselkompetenz von Bruker AXS. Deshalb werden auch alle Schlüsselkomponenten von Bruker AXS selbst oder in enger Zusammenarbeit mit anderen Unternehmen entwickelt und hergestellt.
Die einzelnen Komponenten der Röntgensysteme von Bruker AXS werden zur Aufrüstung von bereits beim Kunden installierten Systeme geliefert. Sie stehen auch der Vielzahl von Röntgenanalytikern zu Verfügung, die von unseren Innovationen profitieren wollen.